| 院校名称： | 北京自动测试技术研究所 | 级别： | 国家级 |
| 地 址： | 北京市海淀区北三环中路31号 | 邮 编： | 100088 |
| 联系人： | 张东 | 电 话： | 010--62019553 |
| 传 真： | 未填 | E-mail： | |
| 网 址： | http://未填 | ||
| 单位简介： | |||
| 【 科研成果 】BC3170X大规模/超大规模存储器测试系统(获电子部科技进步一等奖),BC3110X数字集成电 路测试系统(获电子部科技进步二等奖),集成电路测试程序库(获电子部科技进步三等奖 ),B3180线性集成电路测试系统(获北京市高新技术产品证书),通过专家鉴定的科研成果还有“ 系统内真速可测性研究”,“VLSI与电子系统的层次化可测性设计”,“BC3105电路板功能测试 系统”等。 【 科研设备 】美国S-15超大规模数字集成电路测试系统,美国LTX-77大规模集成电路综合测试系统 ,SP3160数字大规模集成电路测试系统,进口6寸芯片自动探针台,SUN工作站二台,美国进口VXI机 箱及机箱控制器、高档校准源、500MHZ示波器、逻辑分析仪、6位半数字电压表多台,高档微机 30余台。 【学科研究范围 】自动测试系统技术, 软件, 控制技术, 测量技术, 计算机辅助设计, 测试理论与技术。 【 进展中课题 】国家科委“九五”攻关专题:集成电路可测性设计软件研究,大型测试系统进一步开发及实 用化专题,集成电路测试程序库的进一步开发应用专题,高集成度LED显示装置研制,IC卡及其综 合管理系统开发,调制域测试仪的基本理论与技术研究,集成电路测试程序开发平台。 【 产品信息 】BC3105电路板功能测试系统; 仪器插件; 机箱控制器; VXI机箱; IC卡测试仪; 半导体器 件参数测试仪; BC3170X大规模/超大规模存储器测试系统; BC3185数模混合集成电路测试系统; BC3110X数字集成 电路测试系统; BC3180线性集成电路测试系统 【 出版刊物 】《微电子测试》 【 机构类别 】C 【 所在地代码 】110000 【 学科分类 】电子、通信与自动控制技术; 计算机科学技术 【 关键词 】计算机辅助设计; 软件; 自动化; 测试技术; 北京 |
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